赫爾納優(yōu)勢(shì)供應(yīng)瑞士SiTek一維/二維位敏探測(cè)器
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：SiTek探測(cè)器主要有兩種類(lèi)型：一維和二維。SiTek位敏探測(cè)器PSD根據(jù)側(cè)面效應(yīng)光電二極管原理工作，具有出色的位置分辨率。SiTek位敏探測(cè)器PSD，高分辨率，位置非線性±0.1%和±0.3%
產(chǎn)品屬性：一維/二維位敏探測(cè)器SiTek規(guī)格數(shù)據(jù)是在以下條件下測(cè)量的：
- 偏壓=15V
- 溫度23°C
- 位置非線性和熱漂移的測(cè)量范圍為探測(cè)器長(zhǎng)度的80%
- 熱漂移的測(cè)量范圍為23°C至70°C
- 除非另有說(shuō)明，否則所有數(shù)值均為典型值
- 有關(guān)詳細(xì)數(shù)據(jù)，請(qǐng)參閱各數(shù)據(jù)表
SiTek位敏探測(cè)器PSD的特點(diǎn)：
- 將光點(diǎn)或輻射點(diǎn)的位置轉(zhuǎn)換為信號(hào)電流
- PSD探測(cè)器具備出色的位置分辨率和線性度
- 光譜響應(yīng)范圍廣
- 可在各種光照或輻射強(qiáng)度下工作
- 響應(yīng)時(shí)間短
- 同時(shí)測(cè)量光或輻射強(qiáng)度的位置
- 不受光點(diǎn)或輻射點(diǎn)聚焦的影響
- 動(dòng)態(tài)范圍廣
SiTek位敏探測(cè)器PSD的應(yīng)用：
- 距離和高度測(cè)量
- 校準(zhǔn)、位置運(yùn)動(dòng)測(cè)量和振動(dòng)研究
- 非接觸式距離測(cè)量系統(tǒng)（三角測(cè)量法）
- 校準(zhǔn)和表面水平測(cè)量
- 定位和運(yùn)動(dòng)測(cè)量系統(tǒng)
- 光學(xué)光譜分析儀
- 三維機(jī)器視覺(jué)（輪廓映射）
- 角度測(cè)量系統(tǒng)
供應(yīng)瑞士SiTek一維/二維位敏探測(cè)器
儀器儀表
藥物測(cè)試
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